Аппаратные дефекты микросхем

Аппаратные дефекты микросхем обычно относятся к физическим несовершенствам чипов. Отказ интегральной схемы (Fault) - это ошибка логической функции схемы или аномальная работа схемы, вызванная дефектом интегральной схемы. Общими факторами, которые приводят к отказу чипа интегральной схемы, являются изменение параметров компонентов, приводящее к резкому снижению производительности, плохой контакт компонентов, неисправность сигнальной линии, плохая рабочая среда оборудования, приводящая к тому, что оборудование не может работать и так далее. Неисправность цепи можно разделить на жесткую и мягкую. Мягкая неисправность является временной и не наносит постоянного ущерба микросхемам. Обычно он появляется случайным образом, что приводит к аномалиям, когда чип работает нормально. При устранении таких неисправностей необходимо только перепрофилировать систему с теми же параметрами конфигурации, что и при возникновении неисправности, чтобы вернуть устройство в нормальное состояние. Ущерб, причиненный жесткой неисправностью цепи, является постоянным и не может быть восстановлен без ремонта.
Обычно для обнаружения неисправностей чипов ИС требуется три модуля: модуль возбуждения источника, модуль сбора информации наблюдения и модуль обнаружения. Модуль возбуждения источника используется для доставки тестовых векторов на чипы ИС, чтобы привести чипы в различные режимы работы. Обычно требуется, чтобы набор тестовых векторов содержал как можно больше возможных входных векторов. Модуль сбора информации о наблюдениях отвечает за сбор информации, которая затем используется для анализа и обработки. Выбор информации наблюдений имеет решающее значение для обнаружения неисправностей, и она должна содержать как можно больше информации о характеристиках неисправности и быть легко собрана. Модуль обнаружения отвечает за анализ и обработку собранной информации наблюдений и идентификацию признаков неисправности, скрытых в информации наблюдений, для диагностики паттернов неисправности схемы.